UI 優化 (21 июн 2021 г. – 3 июл 2021 г.)
Описание:
包含1.Data Analysis Hbin &Sbin 濾掉Bin 1
2.部分圖表提供縱向放大
3.Test Item Name / Id search
4.Wafer map 轉向 & Notch 位置
5.Chart panning after zoom in
Добавлено на ленту времени:
Дата:
21 июн 2021 г.
3 июл 2021 г.
~ 12 days