UI 優化 (21 juin 2021 – 3 juill. 2021)
Description:
包含1.Data Analysis Hbin &Sbin 濾掉Bin 1
2.部分圖表提供縱向放大
3.Test Item Name / Id search
4.Wafer map 轉向 & Notch 位置
5.Chart panning after zoom in
Ajouté au bande de temps:
Date:
21 juin 2021
3 juill. 2021
~ 12 days